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【Nikon FPD/LSI检查显微镜】更适用于大直径硅片或大型液晶板检测
发布时间:2023-10-09   165次浏览

随着科技的不断发展,高精度、高分辨率的显微镜在各个领域的应用越来越广泛。尼康推出的L200N/L300N系列检查显微镜集尼康光学技术于一身,配置了CFI60光学系统,使其在亮度、对比度和可操作性能方面都达到了新的高度,尤其适合于大直径硅片或大型液晶板的检查;主机刚性高,具有很好的抗振性能,具有防尘、防污染、防静电功能。

 

4 款 ECLIPSE 型号改进了观察和操作性能,也变得更环保,适合检查大型 FPD/LSI。

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落射荧光观察方式拓宽了检查范围-包括 365 nm UV 激发(仅L300N/L300ND/L200ND)

· 采用落射照明能够进行各种观察方式,如明场、暗场、简易偏光和 DIC。也可进行包含 365 nm UV 激发的落射荧光观察(仅L300N/L300ND/L200ND );

· 对于半导体阻抗残留和有机电致发光显示的检查非常有用;